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上海明策電子科技有限公司 黑體校準源|紅外測溫儀|高速攝像機|發(fā)射率測量儀
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明策科技自成立至今,始終致力于為先進材料生產(chǎn)過程、環(huán)保材料檢測、計量校準、高速運動研究等行業(yè)提供專業(yè)的測試解決方案,引進先進的儀器設(shè)備。方案涉及紅外測溫、高清成像、材料研究、標定校準、系統(tǒng)集成。原理涉及光學(xué)近、中、遠紅外波段、可見光波段、太赫茲波段、激光波段等。

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上海明策熱成像校準系統(tǒng)制造商 歡迎咨詢 上海明策供應(yīng)

2025-01-09 00:13:51

MS多波段整機測試系統(tǒng)一系列不同的輻射源可以用在投影系統(tǒng)中(光譜范圍擴展到SWIR的光源或者MTB黑體)以及一系列SWIR用于投影系統(tǒng)中的靶標也可用于測量。

測量成像整機系統(tǒng)軸校準:電控的測試系統(tǒng)生成由被測試熱像儀及相機生成的圖像并計算兩者之間的角度:a)熱像儀在不同視場下的光軸;b)相機在不同鏡頭放大率下的光軸;c)熱像儀與相機之間的光軸。激光系統(tǒng)軸對準:計算機控制的測量系統(tǒng)分析激光系統(tǒng)在激光敏感卡上生成的圖像并計算光軸間的夾角:激光光軸(激光測距儀,激光指示器,激光照射器等)相對于成像系統(tǒng)光軸。注意:MS系統(tǒng)可以進行激光測距儀發(fā)射光軸的校準。這里假定激光測距儀發(fā)射光軸與接收已經(jīng)調(diào)整好。這里可選測量激光測距儀的光軸對MS系統(tǒng)軸的能力。

測量SWIR相機:SIWR投影系統(tǒng)與圖像分析計算機系統(tǒng)相結(jié)合來測量SIWR相機。它包括CDT反射式平行光管,SWIR光源,和一組SWIR靶標;測量不同圖像格式的熱像儀:當采用模擬視頻采集卡并且測量分辨率小于等于756×576的25Hz的視頻圖像時;也可以選擇數(shù)字圖像采集卡(CameraLink,或GigE,或LVDS,USB2.0)作為測量高分辨率高幀頻的數(shù)字輸出傳感器。 科技領(lǐng)航,熱成像校準系統(tǒng),基數(shù)參數(shù)精確,守護每一刻**!上海明策熱成像校準系統(tǒng)制造商

TCB系列黑體是差分面源黑體,旨在模擬低溫和適宜的常溫目標。使用熱電元件控制散熱器溫度。黑體散熱器的覺對溫度通常從0℃至100℃可調(diào)節(jié),但范圍可擴展到-40℃至180℃。黑體發(fā)射面(從50x50mm到500x500mm),也可以拓展到更大的發(fā)射器,高達1000x1000mm的尺寸。

用于典型溫度范圍為0℃至100℃的小型50x50mm發(fā)射面的TCB-2D黑體被用作測試熱像儀的DT/MS系統(tǒng)的模塊。具有更大發(fā)射面和其他溫度范圍的黑體都可以作為其他各種應(yīng)用的單獨模塊提供。Inframet可以提供高達500x500mm的發(fā)射面的TCB黑體(型號TCB-2oD)。但是,應(yīng)該注意的是,典型的小黑體TCB-2D/TCB-4D黑體與TCB-12D/TCB-2oD之間存在很大差異。后者的黑體要大得多,需要更大的功率,升溫更慢,更昂貴。因此建議您選擇自己合適的發(fā)射面尺寸即可。 上海LUMASENSE熱成像校準系統(tǒng)夜視新紀元,INFRAMET LAFT 熱成像光電測試系統(tǒng),基數(shù)參數(shù)優(yōu)化,洞察秋毫!

JT400軸對準測試系統(tǒng)外觀圖Inframet設(shè)計生產(chǎn)的用于測試多傳感器監(jiān)控系統(tǒng)的MS系列測試系統(tǒng)不僅支持這些監(jiān)控系統(tǒng)的擴展性測試,也支持軸對準測試。然而,MS系列測試系統(tǒng)是相對昂貴鎬端的測試系統(tǒng)。

JT多傳感器軸對準測試系統(tǒng)是相對經(jīng)濟的系統(tǒng),用于**的軸對準測試以及光電多傳感器監(jiān)控系統(tǒng)的基本參數(shù)測試。測試功能:1.不同視場的熱像儀的軸對準;2.不同鏡頭焦距的可見光-近紅外相機的軸對準;3.可見光-近紅外相機與熱像儀之間的軸對準;4.激光測距機與可見光-近紅外相機之間的軸對準;5.激光測距機與熱像儀之間的軸對準;6.激光指示器與可見光/近紅外相機以及熱像儀之間的軸對準;7.可見光/近紅外相機的分辨率/靈敏度;8.熱像儀的分辨率;9.激光測距機的發(fā)散角;10.參考光軸與參考機械軸(平面)的對準誤差。

NVS夜視設(shè)備多功能測試系統(tǒng)是一個模塊化的測試系統(tǒng),可測試長程夜視瞄準設(shè)備,同時支持測試短程夜視鏡及雙目夜視鏡。因此NVS測試系統(tǒng)是一個多功能測試系統(tǒng)。NVS測試系統(tǒng)采用模塊化設(shè)計,包括一組可切換的透射式光管、可移動的光源和一組靶標等模塊。NVS測試系統(tǒng)的測試過程是基于MIL系列標準的建議。NVS測量系統(tǒng)投影一個標準靶標的圖像到水平固定的被測夜視儀。通過調(diào)節(jié)兩個旋鈕,操作者可以控制透射到被測量夜視儀光的強度和靶標的類型。被測量器件生成一個畸變的標準靶標的圖像。通過人眼觀察或者借助測量工具如亮度計來評估這個畸變的圖像,得到被測量器件的重要參數(shù)。提升熱成像清晰度,NVS夜視設(shè)備多功能測試系統(tǒng)基數(shù)參數(shù)是關(guān)鍵,夜視新體驗!

BLIQ黑體是使用三個溫度調(diào)節(jié)器構(gòu)建的。首先,標準Peltier元件能夠在約0?C至約100?C范圍內(nèi)實現(xiàn)準確的溫度調(diào)節(jié)。第二,液體冷卻器用于將黑體溫度降低到零度以下。第三,當溫度超過100?C時,可選加熱器進行調(diào)節(jié)溫度。BLIQ黑體附有專業(yè)用罩。當使用干燥氮氣填充時,該罩可以保護黑體發(fā)射器免受結(jié)霜或濕氣冷凝的影響。BLIQ黑體的特點是具有優(yōu)異的溫度分辨率、時間穩(wěn)定性、溫度均勻性和溫度不確定性。所有這些功能使得BLIQ黑體被用作測試/校準熱成像儀/IRFPA模塊系統(tǒng)中的紅外輻射源的理想選擇,或**標準實驗室的溫度標準。熱成像新體驗,基數(shù)參數(shù)智能校準,細節(jié)盡在眼前!上海明策熱成像校準系統(tǒng)制造商

熱成像新突破,基數(shù)參數(shù)精細調(diào)校,夜視效果超乎想象!上海明策熱成像校準系統(tǒng)制造商

VSB黑體是設(shè)計用來在環(huán)境溫度為-173?C至-33?C的冷卻真空室中工作時,模擬低/中溫目標(-10℃至+200℃)的面源黑體。換句話說,VSB黑體是用于在太空環(huán)境條件下,模擬地球上的溫度目標。VSB黑體的發(fā)射器面積尺寸從50x50mm到150x150mm。發(fā)射器的溫度由緊貼發(fā)射器的加熱元件陣列來調(diào)節(jié)。使用超準確算法進行溫度穩(wěn)定控制。VSB黑體針對長距離控制進行了優(yōu)化,位于真空室內(nèi)的黑體可以從位于真空室外的PC控制。此外,黑體經(jīng)過優(yōu)化,可與MRW-8輪集成配套使用。上海明策熱成像校準系統(tǒng)制造商

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